Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET) (IEC 62373:2006); Deutsche Fassung EN 62373:2006
Ausgabe 2007-01

Fachgrundspezifikation: Druckkontakt-Einzel-Leistungshalbleiterelemente (Befähigungsanerkennung); Deutsche Fassung EN 153000:1998
Ausgabe 1999-01

Beschichtungsstoffe - Bestimmung des pH-Wertes - Teil 2: pH-Sensoren mit ISFET-Technologie (ISO 19396-2:2025); Deutsche Fassung EN ISO 19396-2:2025
Ausgabe 2025-09

Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren auf mobile Ionen für Feldeffekttransistoren mit Metall-Oxid-Halbleiter (MOSFET) (IEC 62417:2010); Deutsche Fassung EN 62417:2010
Ausgabe 2010-12

Vordruck für Bauartspezifikation - Phototransistoren, Photo-Darlington-Transistoren, Phototransistorzeilen; Deutsche Fassung EN 120003:1992
Ausgabe 1996-11

Sachmerkmal-Leisten für Transistoren und Thyristoren
Ausgabe 1988-12

Richtlinien für Prüfverfahren des dynamischen Einschaltwiderstandes bei GaN-HEMT-Leistungswandlern (IEC 63373:2022); Deutsche Fassung EN IEC 63373:2022
Ausgabe 2023-08

Halbleiterbauelemente - Hot-Carrier-Prüfverfahren für MOS-Transistoren (IEC 62416:2010); Deutsche Fassung EN 62416:2010
Ausgabe 2010-12

Halbleiter-Stromrichter - Allgemeine Anforderungen und netzgeführte Stromrichter - Teil 1-1: Festlegung der Grundanforderungen (IEC 60146-1-1:2024 + COR1:2025); Deutsche Fassung EN IEC 60146-1-1:2024 + AC:2025
Ausgabe 2025-10