Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 4-3: Prüfungen mit Spannungsbeanspruchung; Prüfung 4c: Spannungsfestigkeit vorisolierter Crimphülsen (IEC 60512-4-3:2002); Deutsche Fassung EN 60512-4-3:2002
Ausgabe 2003-01

Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 4-1: Prüfungen mit Spannungsbeanspruchung - Prüfung 4a: Spannungsfestigkeit (IEC 60512-4-1:2003); Deutsche Fassung EN 60512-4-1:2003
Ausgabe 2004-01

Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 4-2: Prüfungen mit Spannungsbeanspruchung; Prüfung 4b: Sprühaussetzung (IEC 60512-4-2:2002); Deutsche Fassung EN 60512-4-2:2002
Ausgabe 2003-01

Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten (IEC 62374:2007); Deutsche Fassung EN 62374:2007
Ausgabe 2008-02

Metallische Werkstoffe - Hydraulischer Ringaufweitversuch (ISO 15363:2017); Deutsche Fassung EN ISO 15363:2025
Ausgabe 2026-01

Isolationskoordination - Teil 12: Anwendungsrichtlinien für HGÜ-Stromrichterstationen mit Stromzwischenkreis-Konverter (LCC) (IEC 60071-12:2022); Deutsche Fassung EN IEC 60071-12:2022
Ausgabe 2023-12

Halbleiterbauelemente - Teil 1: Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei Isolationsschichten zwischen metallischen Leiterbahnen (IEC 62374-1:2010); Deutsche Fassung EN 62374-1:2010 + AC:2011
Ausgabe 2011-06

Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 2-1: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstandes; Prüfung 2a: Durchgangswiderstand; Millivoltmethode (IEC 60512-2-1:2002); Deutsche Fassung EN 60512-2-1:2002
Ausgabe 2003-01

Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 2-3: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstands; Prüfung 2c: Schwankung des Durchgangswiderstands (IEC 60512-2-3:2002); Deutsche Fassung EN 60512-2-3:2002
Ausgabe 2003-01

Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 2-6: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstands; Prüfung 2f: Durchgangswiderstand Gehäuse (Schirm) (IEC 60512-2-6:2002); Deutsche Fassung EN 60512-2-6:2002
Ausgabe 2003-01