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Norm [AKTUELL]

DIN EN 60191-6-16

Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen - Teil 6-16: Glossar für Fassungen für die Prüfung und Voralterung von BGA, LGA, FBGA und FLGA (IEC 60191-6-16:2007); Deutsche Fassung EN 60191-6-16:2007
Ausgabe 2007-11

Norm [AKTUELL]

DIN EN 60191-6-22

Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen - Teil 6-22: Allgemeine Regeln für die Erstellung von Gehäusezeichnungen von SMD-Halbleitergehäusen - Konstruktionsleitfaden für Halbleitergehäuse Si-Feinraster-Ball-Grid-Array und Si-Feinraster-Land-Grid-Array (S-FBGA und S-FLGA) (IEC 60191-6-22:2012); Deutsche Fassung EN 60191-6-22:2013
Ausgabe 2013-08

Norm [AKTUELL]

DIN EN 61191-6

Elektronikaufbauten auf Leiterplatten - Teil 6: Bewertungskriterien für Hohlräume in Lötverbindungen von BGA und LGA und Messmethode (IEC 61191-6:2010); Deutsche Fassung EN 61191-6:2010
Ausgabe 2011-01

Norm [AKTUELL]

DIN EN 61188-5-8

Leiterplatten und Flachbaugruppen - Konstruktion und Anwendung - Teil 5-8: Betrachtungen zur Montage (Anschlussfläche/Verbindung) - Flächenmatrix-Bauelemente (BGA, FBGA, CGA, LGA) (IEC 61188-5-8:2007); Deutsche Fassung EN 61188-5-8:2008
Ausgabe 2008-07

Norm [AKTUELL]

EIA-540B0AE

Detail Specification for Production Land Grid Array (LGA) Socket for Use in Electronic Equipment
Ausgabe 2000-06

Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen - Teil 6-16: Glossar für Fassungen für die Prüfung und Voralterung von BGA, LGA, FBGA und FLGA (IEC 60191-6-16:2007)
Ausgabe 2007-12-01

Leiterplatten und Flachbaugruppen - Konstruktion und Anwendung - Teil 5-8: Betrachtungen zur Montage (Anschlussfläche/Verbindung) - Flächenmatrix-Bauelemente (BGA, FBGA, CGA, LGA) (IEC 61188-5-8:2007)
Ausgabe 2008-08-01

Norm [AKTUELL]

EIA JESD 51-9

Test Boards for Area Array Surface Mount Package Thermal Measurements
Ausgabe 2000-07

Norm [AKTUELL]

BS EN 61191-6

Elektronikaufbauten auf Leiterplatten. Bewertungskriterien für Hohlräume in Lötverbindungen von BGA und LGA und Messmethode
Ausgabe 2010-05-31

Norm [AKTUELL]

SN EN 61191-6

Elektronikaufbauten auf Leiterplatten - Teil 6: Bewertungskriterien für Hohlräume in Lötverbindungen von BGA und LGA und Messmethode
Ausgabe 2010-04