• Illustration einer Frau, die einen Schlüssel in ein digitales Schloss in einen Laptop steckt

    Digitale Souveränität braucht Normung Jetzt Spielregeln von morgen mitgestalten

    Mehr erfahren
  • Haie und viele Fischer im Meer

    Wie erlangen wir digitale Souveränität? Antworten im neuen DIN A4-Magazin

    Jetzt Ausgabe lesen
 

Projekte von NA 062-08-16 AA

ISO/AWI 26210 2026-03-02 Chemische Oberflächenanalytik - Rasterkraftmikroskopie - Leitfaden für die quantitative Potentialmessung im Nanobereich mittels Kelvinsondenkraftmikroskopie Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/AWI 26317 2026-03-02 Chemische Oberflächenanalyse - Allgemeine Verfahren - Leitfaden für den Abgleich zwischen verschiedenen mikroskopischen Messgeräten zur Analyse der identischen Position Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/AWI TS 22933 2025-11-15 Surface chemical analysis - Secondary ion mass spectrometry - Method for the measurement of mass resolution in SIMS Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/CD 18115-4 2025-06-25 Chemische Oberflächenanalyse - Begriffe - Teil 4: Begriffe für die Totalreflektions-Röntgenfluoreszenz-Analyse (TXRF) Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/CD TS 25739 2025-04-23 Surface chemical analysis - Electron spectroscopies - Work function measurement by ultraviolet photoelectron spectroscopy Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/CD 20579-5 2024-11-11 Chemische Oberflächenanalyse - Probennahme, Lagerung und Transport biologischer Proben Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/CD 21133 2024-10-14 Chemische Oberflächenanalyse - zinnbasierten metallischen Beschichtungen mit optischer Glimmentladungs-Emissionsspektrometrie Mehr  Kontakt zu DIN 
DIN ISO 18115-1 2024-04-18 Chemische Oberflächenanalyse - Vokabular - Teil 1: Allgemeine Begriffe und Begriffe für die Spektroskopie (ISO 18115-1:2023) Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/DIS 20411 2023-11-07 Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionenmassenspektrometrie - Korrekturverfahren für gesättigte Intensitäten in der Einzelionenzählung der dynamischen Sekundärionenmassenspektrometrie Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/AWI TR 13096 2021-11-15 Guideline to describe AFM probe properties Mehr  Kontakt zu DIN 

Zum Seitenanfang