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Projekt

Chemische Oberflächenanalytik - Rasterkraftmikroskopie - Leitfaden für die quantitative Potentialmessung im Nanobereich mittels Kelvinsondenkraftmikroskopie

Beginn

2026-03-02

Geplante Dokumentnummer

ISO/AWI 26210

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 9/WG 6 - Anwendung von ESPM  

Ihr Kontakt

Steffen Jenkel

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

Tel.: +49 30 2601-2058

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