• Illustration einer Person, die auf eine Darstellung eines Produktlebenszyklus zeigt

    Umweltinformationen transparent kommunizieren DIN unterstützt Unternehmen

    Mehr erfahren
  • Ruderboot von oben

    DIN-Mitglied werden Profitieren Sie von vielen Vorteilen

    Mehr erfahren
Projekt

Chemische Oberflächenanalytik - Rasterkraftmikroskopie - Leitfaden für die quantitative Potentialmessung im Nanobereich mittels Kelvinsondenkraftmikroskopie

Beginn

2026-03-02

Geplante Dokumentnummer

ISO/AWI 26210

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 9/WG 6 - Anwendung von ESPM  

Ihr Kontakt

Steffen Jenkel

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

Tel.: +49 30 2601-2058

Zum Kontaktformular