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Projekt

Chemische Oberflächenanalyse - Allgemeine Verfahren - Leitfaden für den Abgleich zwischen verschiedenen mikroskopischen Messgeräten zur Analyse der identischen Position

Beginn

2026-03-02

Geplante Dokumentnummer

ISO/AWI 26317

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 2/WG 4 - Probenhandhabung  

Ihr Kontakt

Steffen Jenkel

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

Tel.: +49 30 2601-2058

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