• Illustration einer Frau, die einen Schlüssel in ein digitales Schloss in einen Laptop steckt

    Digitale Souveränität braucht Normung Jetzt Spielregeln von morgen mitgestalten

    Mehr erfahren
  • Haie und viele Fischer im Meer

    Wie erlangen wir digitale Souveränität? Antworten im neuen DIN A4-Magazin

    Jetzt Ausgabe lesen
Projekt

Chemische Oberflächenanalyse - Begriffe - Teil 4: Begriffe für die Totalreflektions-Röntgenfluoreszenz-Analyse (TXRF)

Beginn

2025-06-25

Geplante Dokumentnummer

ISO/CD 18115-4

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 1/WG 2 - Begriffsbestimmungen  

Ihr Kontakt

Steffen Jenkel

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

Tel.: +49 30 2601-2058

Zum Kontaktformular