Kurzreferat

Dieses Dokument beschreibt Verfahren zur Messung der lateralen Größe und der Dicke von Graphenoxid-(GO-)Flakes unter Verwendung von Rasterelektronenmikroskopie (REM) bzw. Rasterkraftmikroskopie (AFM), einschließlich Probenvorbehandlung, Messverfahren und Datenauswertung. Es ist anwendbar auf die Charakterisierung von Graphenoxid in Pulver- und Flüssigdispersionsform.

Beginn

2026-04-29

WI

00352079

Geplante Dokumentnummer

DIN CEN ISO/TS 23879

Projektnummer

06237105

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-10-101 AA - Nanotechnologien  

Zuständiges europäisches Arbeitsgremium

CEN/TC 352 - Nanotechnologien  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 229/JWG 2 - Gemeinsame Arbeitsgruppe ISO/TC 229 - IEC/TC 113 WG: Messung und Charakterisierung