Projekt

Chemischer Oberflächenanalyse - Regelwerke für die automatische Extraktion von Informationen aus dem Röntgenphotoelektronenspektroskopie-Übersichtsspektrum - Identifikation und Verwendung signifikanter Nebenmerkmale im XPS-Übersichtsspektrum

Beginn

2024-01-09

Geplante Dokumentnummer

ISO/AWI 24689

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 3 - Behandlung und Verarbeitung von Daten  

Ihr Kontakt

Steffen Jenkel

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

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