Norm [AKTUELL]

BS EN 60749-44
Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Prüfverfahren zur Einzelereignis- Effekt-Neutronenbestrahlung von Halbleiterbauelementen

Titel (englisch)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices

Ausgabe 2016-11-30
Originalsprache Englisch
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