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[CURRENT]
BS EN 60749-44
BS EN 60749-44
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
Title (German)
Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Prüfverfahren zur Einzelereignis- Effekt-Neutronenbestrahlung von Halbleiterbauelementen