Verfahren

Vornorm

Einführungsbeitrag

Die vorliegende technische Spezifikation legt eine generische Terminologie für die globalen und lokalen Qualitätsparameter von künstlichen Gittern, die als Abweichungen von den nominalen Positionen der Gitterstrukturen anzusehen sind, fest. Das Dokument bietet auch eine Anleitung dafür, wie die Mess- und Auswertemethoden zur Bestimmung dieser Parameter kategorisiert werden können. Diese Spezifikation soll die Kommunikation zwischen Herstellern, Anwendern und Kalibrierlaboratorien, die sich mit der Charakterisierung der dimensionalen Qualitätsparameter von künstlichen Gittern in der Nanotechnologie beschäftigen, erleichtern. Diese Spezifikation unterstützt die Qualitätssicherung bei der Produktion und dem Einsatz von künstlichen Gittern in verschiedenen Anwendungsbereichen der Nanotechnologie. Während die Definitionen und beschriebenen Methoden universell für eine große Bandbreite verschiedener Gitter anwendbar sind, liegt der Schwerpunkt auf den eindimensionalen und zweidimensionalen Gittern. Zuständig ist das DKE/K 141 "Nanotechnologie" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.

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Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 141 - Nanotechnologie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 229/JWG 2 - Gemeinsame Arbeitsgruppe ISO/TC 229 - IEC/TC 113 WG: Messung und Charakterisierung