Norm
[AKTUELL]
OEVE/OENORM EN 60749-29
OEVE/OENORM EN 60749-29
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung (IEC 60749-29:2011) (deutsche Fassung)
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (IEC 60749-29:2011) (german version)
