Standards
[CURRENT]
OEVE/OENORM EN 60749-29
OEVE/OENORM EN 60749-29
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (IEC 60749-29:2011) (german version)
Title (German)
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung (IEC 60749-29:2011) (deutsche Fassung)