ISO/TR 22335
Chemische Analytik an Oberflächen - Tiefenprofilanalyse - Messung der Ionenstrahlzerstäubungs-Geschwindigkeit mittels der Gitter-Kopiermethode mit dem mechanischen Stylus Profilometer

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - Depth profiling - Measurement of sputtering rate: mesh-replica method using a mechanical stylus profilometer

NA 062-09-103 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie

ISO/TC 201/SC 4 - Untersuchungen an Tiefenprofilen

Ausgabe 2007-07

Originalsprache Englisch

Preis ab 114,50 €

Kaufen bei DIN Media

Inhaltsverzeichnis

Ihr Kontakt

Batbayar Ganbaatar

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

Tel.: +49 30 2601-2038
Fax: +49 30 2601-42038