NA 062
DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)
Norm
[ZURÜCKGEZOGEN]
DIN 50442-1
DIN 50442-1
Prüfung halbleitender anorganischer Stoffe; Bestimmung der Oberflächenstruktur kreisförmiger, einkristalliner Halbleiterscheiben; Gesägte und geläppte Scheiben
Titel (englisch)
Testing of semi-conductive inorganic materials; determination of the surface structure of circular monocrystalline semi-conductive slices; as-cut and lapped slices
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Zuständiges nationales Arbeitsgremium
NA 062 BR - Beirat des DIN-Normenausschusses Materialprüfung (NMP)