NA 062
DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)
DIN EN ISO 9220 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| DIN EN ISO 1463 | 2021-08 | Metall- und Oxidschichten - Schichtdickenmessung - Mikroskopisches Verfahren (ISO 1463:2021); Deutsche Fassung EN ISO 1463:2021 Mehr |
| DIN EN ISO 2064 | 2000-06 | Metallische und andere anorganische Schichten - Definitionen und Festlegungen, die die Messung der Schichtdicke betreffen (ISO 2064:1996); Deutsche Fassung EN ISO 2064:2000 Mehr |
| ISO 1463 | 2021-05 | Metall- und Oxidschichten - Schichtdickenmessung - Mikroskopisches Verfahren Mehr |
| ISO 16700 | 2016-08 | Mikrobereichsanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Leiffäden für die Kalibrierung der Bildvergrößerung Mehr |
| ISO 2064 | 1996-10 | Metallische und andere anorganische Schichten - Definitionen und Festlegungen, die die Messung der Schichtdicke betreffen (ISO 2064:1996) Mehr |