2. Mitwirken
3. Normenausschüsse
4. NMP

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

Einführungsbeitrag

In diesem Dokument ist ein Verfahren zur Messung der örtlichen Dicke von Metall-, Oxid- und Emailschichten durch mikroskopische Untersuchung von Querschliffen mit einem Lichtmikroskop festgelegt. Dieses Dokument wurde vom Technischen Komitee ISO/TC 107 "Metallic and other inorganic coatings" in Zusammenarbeit mit dem Technischen Komitee CEN/TC 262 "Metallische und andere anorganische Überzüge, einschließlich des Korrosionsschutzes und der Korrosionsprüfung von Metallen und Legierungen" erarbeitet, dessen Sekretariat von BSI (Vereinigtes Königreich) gehalten wird. Das zuständige deutsche Gremium ist der NA 062-01-61 AA "Mess- und Prüfverfahren für Schichten und Schichtsysteme" im DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP).

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN ISO 1463:2004-08 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Aufnahme der digitalen Bildverarbeitung für Lichtmikroskope; b) Aufnahme weiterer Hinweise und Verfahren zur Präparation von Querschliffen; c) Streichung einiger gefährlicher Ätzrezepturen aus Anhang C; d) redaktionelle Änderungen.

Dokument: zitiert andere Dokumente

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-01-61 AA - Mess- und Prüfverfahren für Schichten und Schichtsysteme  

Zuständiges europäisches Arbeitsgremium

CEN/TC 262 - Metallische und andere anorganische Überzüge, einschließlich des Korrosionsschutzes und der Korrosionsprüfung von Metallen und Legierungen  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 107 - Metallische und andere anorganische Überzüge