2. Mitwirken
  3. Normenausschüsse
  4. NMP
NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

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Norm [AKTUELL]

ISO 20411
Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionenmassenspektroskopie - Korrekturverfahren für gesättigte Intensität bei Einzelionen zählender dynamischer Sekundärionenmassenspektroskopie

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - Secondary ion mass spectrometry - Correction method for saturated intensity in single ion counting dynamic secondary ion mass spectrometry

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 6 - Massenspektroskopien  

Ausgabe 2018-03
Originalsprache Englisch
Preis ab 114,50 €
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