NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

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Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

ISO 14606
Chemische Oberflächenanalyse - Tiefenprofilierung mit Sputtern - Optimierung durch Nutzung von Referenz-Schichtsystemen

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - Sputter depth profiling - Optimization using layered systems as reference materials

NA 062-09-103 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie

ISO/TC 201/SC 4 - Untersuchungen an Tiefenprofilen

Ausgabe 2015-12

Originalsprache Englisch

Preis ab 114,50 €

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