NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

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Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

ISO 17862
Chemische Oberflächeneanalyse - Sekundärionenmassenspektrometrie - Linearität der Intensitätsskale in einzelne Ionen zählenden Flugzeit-Massenanalysegeräten

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - Secondary ion mass spectrometry - Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers

NA 062-09-103 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie

ISO/TC 201/SC 6/WG 4 - Statische SIMS

Ausgabe 2013-12

Originalsprache Englisch

Preis ab 154,60 €

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