• Illustration von drei Personen, die Puzzleteile zusammenfügen

    Handlungsfähig in der Krise Normen stärken Sicherheit und Resilienz

    Mehr erfahren
  • Haie und viele Fischer im Meer

    Wie erlangen wir digitale Souveränität? Antworten im neuen DIN A4-Magazin

    Jetzt Ausgabe lesen

Projekte von ISO/TC 202/SC 4

Dokumentnummer Beginn Titel Kontakt zu DIN
ISO/AWI 20171 2026-01-05 Mikrobereichsanalyse - Rasterelektronenmikroskopie — Tagged Image File Format für die Rasterelektronenmikroskopie (TIFF/SEM) Mehr  Kontakt zu DIN