Projekte von ISO/TC 202/SC 3

ISO/AWI 16887 2024-03-27 Mikrobereichsanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Leitfäden für die Probenvorbereitung für das Transmissionselektronenmikroskop unter Verwendung der Focused-Ion-Beam-Verarbeitung Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/DIS 25498 2023-09-12 Mikrobereichsanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Bereichsselektive Elektronenbeugungsanalyse mit einem Transmissionselektronenmikroskop Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/DIS 20263 2023-08-28 Mikrobereichsanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Verfahren zur Bestimmung von Grenzschichtpositionen in der Querschnittsaufnahme von mehrschichtigen Materialien Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/DIS 19214 2022-11-30 Mikrobereichsanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Verfahren zur Bestimmung der scheinbaren Wachstumsrichtung von Nanokristallen mit morphologischer Anisotropie mittels Transmissionselektronenmikroskopie Mehr  Kontakt zu DIN