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ISO/CD 25871 2025-07-28 Mikrobereichsanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Verfahren zur Dickenmessung dünner Kristalle durch konvergente Elektronenstrahlbeugung Mehr  Kontakt zu DIN 
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ISO/FDIS 16887 2024-03-27 Mikrobereichsanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Leitfäden zur Probenpräparation für die Transmissionselektronenmikroskopie mittels Lift-out-Methode unter Verwendung eines fokussierten Ionenstrahlsystems Mehr  Kontakt zu DIN 

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