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Projekte von ISO/TC 202/SC 3

Dokumentnummer Beginn Titel Kontakt zu DIN
ISO/AWI 26100 2025-10-23 Mikrobereichsanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Dickenmessung dünner Folien mittels Elektronenenergieverlustspektroskopie Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/AWI 25871 2025-07-28 Mikrobereichsanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Verfahren zur Dickenmessung dünner Kristalle durch konvergente Elektronenstrahlbeugung Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/FDIS 25387 2024-11-15 Mikrobereichsanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Verfahren zur Bestimmung der Punktauflösung eines hochauflösenden Transmissionselektronenmikroskops Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/WD 13139 2024-08-22 Mikrobereichsanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Messung der Versetzungsdichte in dünnen Metallen Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/DIS 16887 2024-03-27 Mikrobereichsanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Leitfäden zur Probenpräparation für die Transmissionselektronenmikroskopie mittels Lift-out-Methode unter Verwendung eines fokussierten Ionenstrahlsystems Mehr  Kontakt zu DIN