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Projekte von ISO/TC 202/SC 3

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Dokumentnummer	Beginn	Titel	Kontakt zu DIN
ISO/AWI 26100	2025-10-23	Mikrobereichsanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Dickenmessung dünner Folien mittels Elektronenenergieverlustspektroskopie Mehr	Kontakt zu DIN
ISO/AWI 25871	2025-07-28	Mikrobereichsanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Verfahren zur Dickenmessung dünner Kristalle durch konvergente Elektronenstrahlbeugung Mehr	Kontakt zu DIN
ISO 25387	2024-11-15	Mikrobereichsanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Verfahren zur Bestimmung der Punktauflösung eines hochauflösenden Transmissionselektronenmikroskops Mehr	Kontakt zu DIN
ISO/WD 13139	2024-08-22	Mikrobereichsanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Messung der Versetzungsdichte in dünnen Metallen Mehr	Kontakt zu DIN
ISO/DIS 16887	2024-03-27	Mikrobereichsanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Leitfäden zur Probenpräparation für die Transmissionselektronenmikroskopie mittels Lift-out-Methode unter Verwendung eines fokussierten Ionenstrahlsystems Mehr	Kontakt zu DIN

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