• Illustration einer Frau, die einen Schlüssel in ein digitales Schloss in einen Laptop steckt

    Digitale Souveränität braucht Normung Jetzt Spielregeln von morgen mitgestalten

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  • Digitale Darstellung der Deutschland-Karte

    Wie sichern wir digitale Freiheit? Antworten im neuen DIN A4-Magazin

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Veröffentlichungen von ISO/TC 201

ISO 14706 2014-08 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Bestimmung der Oberflächenkontaminationen auf Silizium-Wafern mit Hilfe der "Total X-Ray Fluorescence Spectroscopy" (TXRF) Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 16413 2020-08 Norm Bestimmung der Dicke, Dichte und Grenzflächenbreite von Dünnschichten durch Röntgenreflektometrie - Geräteanforderungen, Einstellung und Positionierung, Datensammlung, Datenanalyse und Berichterstattung Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 17331 2004-05 Norm Chemische Analytik an Oberflächen - Chemische Methoden für die Sammlung von Elementen von der Oberfläche von Siliziumscheiben-Arbeits-Referenzmaterialien und deren Bestimmung mit Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzanalyse (TXRF) Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 17331 AMD 1 2010-07 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Chemische Methoden für die Sammlung von Elementen von der Oberfläche von Siliziumscheiben-Arbeits-Referenzmaterialien und deren Bestimmung mit Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzanalyse (TXRF); Änderung 1 Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO/TS 18507 2015-07 Vornorm Chemische Oberflächenanalyse - Technische Spezifikation zur Verwendung der Röntgentotalreflektion-Fluoreszenzspektroskopie bei biologischen und Umweltanalysen Mehr  Kaufen bei DIN Media

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