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NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

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Norm-Entwurf [NEU]

ISO/DIS 20411
Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionenmassenspektrometrie - Korrekturverfahren für gesättigte Intensitäten in der Einzelionenzählung der dynamischen Sekundärionenmassenspektrometrie

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - Secondary ion mass spectrometry - Correction method for saturated intensity in single ion counting dynamic secondary ion mass spectrometry

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-09-103 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 6/WG 4 - Statische SIMS  

Ausgabe 2026-07
Frist zur Stellungnahme bis 2026-10-08
Originalsprache Englisch
Preis ab 76,70 €
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Inhaltsverzeichnis

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