NA 027

DIN-Normenausschuss Feinmechanik und Optik (NAFuO)

Norm-Entwurf [VORBESTELLBAR]

DIN ISO 11421
Optik und Photonik - Unsicherheit von Messungen der optischen Übertragungsfunktion (ISO 11421:2025); Text Deutsch und Englisch

Titel (englisch)

Optics and photonics - Uncertainty of optical transfer function (OTF) measurement (ISO 11421:2025); Text in German and English

Einführungsbeitrag

Dieses Dokument enthält einen allgemeinen Leitfaden für die Bewertung der Ursache von Abweichungen in Messanlagen für die optische Übertragungsfunktion (OTF, englisch: optical transfer function) und für die Nutzung dieser Informationen zur Abschätzung von OTF-Messabweichungen. Es enthält außerdem einen Leitfaden zur Beurteilung und Spezifikation einer allgemeinen Unsicherheit für eine spezielle Messanlage und empfiehlt Verfahren für Routinebeurteilungen. Der Hauptteil dieses Dokuments behandelt ausschließlich die Modulationsübertragungsfunktion (MTF, englisch: modulation transfer function) als Teil der OTF. Die Phasenübertragungsfunktion (PTF, englisch: phase transfer function) wird verhältnismäßig kurz im Anhang A behandelt. Das zuständige nationale Normungsgremium ist der Arbeitskreis NA 027-01-02-01 AK "Messverfahren für die Optik" im DIN-Normenausschuss Feinmechanik und Optik (NAFuO).

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN ISO 11421:2010-10 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) sagittale und tangentiale OTF wurden definiert; b) Symbole, Formeln und Nomenklatur wurden überarbeitet; c) Außeraxiale Vergrößerungsfehler aufgrund von Bildverzerrungen bei Verwendung von Gitterobjekten wurden neu hinzugefügt; d) das Dokument wurde überarbeitet, um mit den Begriffen und Definitionen des ISO/IEC Guide 98 (GUM) und des ISO/IEC Guide 99 (VIM) bezüglich der Angabe von Messunsicherheiten übereinzustimmen; e) Erklärungen zur Berechnung von Messunsicherheiten wurden hinzugefügt; f) Anhang C wurde überarbeitet.

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 027-01-02-01 AK - Messverfahren für die Optik  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 172/SC 1/WG 1 - Allgemeine optische Prüfverfahren  

Ausgabe 2026-07
Erscheinung 2026-06-12
Frist zur Stellungnahme 2026-06-12
bis
2026-08-12
Originalsprache Deutsch , Englisch
Preis ab 143,40 €
Inhaltsverzeichnis

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Anna Perbliess

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