NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 60749-34 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 60747-1 | 1983 | Halbleiterbauelemente - Diskrete Bauelemente und integrierte Schaltkreise; Teil 1: Allgemeines Mehr |
| IEC 60747-2 | 2000-03 | Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 2: Gleichrichterdioden Mehr |
| IEC 60747-6 | 2000-12 | Halbleiterbauelemente - Teil 6: Thyristoren Mehr |
| IEC 60749-23 | 2004-02 | Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur Mehr |
| IEC 60749-3 | 2002-04 | Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung Mehr |