NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

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Norm [AKTUELL]

IEC 60749-3
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination

Ausgabe 2002-04

Originalsprache Englisch , Französisch

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