NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

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DIN EN 60749-20 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:

Dokumentnummer	Ausgabe	Titel
EN 60749-3	2002-08	Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung (IEC 60749-3:2002) Mehr
IEC 60068-2-20	1979	Grundlegende Umgebungsprüfverfahren; Teil 2: Prüfungen; Prüfung T: Lötung Mehr
IEC 60749-3	2002-04	Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung Mehr