NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
Norm
[ZURÜCKGEZOGEN]
DIN EN 60749-9
DIN EN 60749-9
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 9: Beständigkeit der Kennzeichnung (IEC 60749-9:2002); Deutsche Fassung EN 60749-9:2002
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9:2002); German version EN 60749-9:2002
Änderungsvermerk
- vollständige Neufassung der in DIN EN 60749, Kapitel 4, Abschnitt 2, enthaltenen Prüfung, so dass dieses Prüfverfahren in einer eigenständigen Norm veröffentlicht werden kann.
Dokument: zitiert andere Dokumente
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente
