DKE German Commission for Electrical, Electronic & Information Technologies of DIN and VDE
DIN EN 60749-9
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9:2002); German version EN 60749-9:2002
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 9: Beständigkeit der Kennzeichnung (IEC 60749-9:2002); Deutsche Fassung EN 60749-9:2002
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Responsible national committee
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente