DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN IEC 60512-23-3
; VDE 0687-512-23-3:2020-02
Steckverbinder für elektrische und elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 23-3: Schirm- und Filterprüfungen - Prüfung 23c: Schirmwirkung von Steckverbindern und Zubehör - Paralleldrahtverfahren (IEC 60512-23-3:2018); Deutsche Fassung EN IEC 60512-23-3:2019
Connectors for electrical and electronic equipment - Tests and measurements - Part 23-3: Screening and filtering tests - Test 23c: Shielding effectiveness of connectors and accessories - Line injection method (IEC 60512-23-3:2018); German version EN IEC 60512-23-3:2019
Einführungsbeitrag
Dieser Teil der DIN EN 60512 (VDE 0687-512) legt ein Standardverfahren für die Messung der Schirmwirkung von Steckverbindern mit oder ohne Zubehör fest, die mit einem angeschlossenen Kabel versehen sind. Solch eine Einrichtung muss eine rundherum reichende ununterbrochene Schirmungsfähigkeit über ihre gesamte Länge aufweisen. Es können mit diesem Prüfverfahren Rundsteckverbinder, Rechtecksteckverbinder, Steckverbinder für Leiterplatten sowie Steckverbinderzubehör geprüft werden. Dieses Prüfverfahren basiert auf dem Prinzip, dass das eigentliche Schirmungsvermögen der Steckverbinder beziehungsweise des Zubehörs oder der Kabeleinrichtung deren Oberflächen-Transferimpedanz ZT ist, die als Längsspannung im Schirm im Verhältnis zum Stromfluss auf der Außenseite des Gehäuses ausgedrückt werden kann. Diese Prüfung ist auch für die Messung der Schirmwirkung eines Steckverbinders geeignet, der mit dreipoligen Kontakten und geschirmten, verdrillten Leiterpaaren bestückt ist, wie sie in Datenbussystemen verwendet werden. Die wesentlichen Änderungen gegenüber DIN EN 60512-23-3:2001 bestehen in der Aktualisierung von verwendeten Begriffen und normativen Verweisungen, redaktionellen Überarbeitungen der gesamten Texte einschließlich des Titels des Dokuments. Zuständig ist das DKE/K 651 "Steckverbinder" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN EN 60512-23-3:2001-11 und DIN EN 60512-23-3 Berichtigung 1:2012-06 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) es wurde eine Einleitung hinzugefügt, um Anwendern angesichts des parallelen Prüfverfahrens 23g innerhalb der gleichen Familie von Prüfverfahren Orientierung bei der Anwendung dieses Dokuments zu geben; b) der Frequenzbereich, für den dieses Prüfverfahren als zuverlässig gilt, wurde von 1 GHz auf 3 GHz verlagert, um den Angaben in Bild 7 (unverändert) zu entsprechen und der aktuellen industriellen Praxis und Bedarfslage gerecht zu werden; c) normative Verweisung auf IEC 62153-4-6:2017 anstelle der bisherigen normativen Verweisung auf IEC 60096-4-1:1990; d) Aktualisierung der Unterabschnittsnummern von IEC 62153-4-6:2017, welche noch die vorherigen Unterabschnittsnummern aus IEC 61196-1:1995 waren (fälschlicherweise IEC 60096-4-1:1990 zugeordnet). Zum einfacheren Verständnis wurden die Titel dieser Unterabschnitte hinzugefügt; e) Anpassung des Titels an den derzeitigen Arbeitsbereich von SC 48B (Steckverbinder) und Einbeziehung von elektrischen Anlagen als Zielanwendung der besagten Steckverbinder (entsprechend dem derzeitigen Arbeitsbereich von TC 48) sowie ausdrückliche Bezugnahme auf das Paralleldrahtverfahren zur Messung der Transferimpedanz; f) Symbol SE für die Schirmwirkung und Symbol ZT für die Oberflächen-Transferimpedanz im gesamten Dokument hinzugefügt; g) Verschiebung der Liste der Steckverbinder, für die das Prüfverfahren anwendbar ist, aus 3.1 in den Anwendungsbereich; h) Änderung des früheren Namens der Organisation AECMA in den derzeitigen Namen ASD-STAN; i) Verwendung der Benennung "Prüfling" anstelle der Benennung "Prüfmuster" im gesamten Dokument; j) Verdeutlichung der in Tabelle 3 beschriebenen Transferimpedanz im Titel und redaktionelle Verbesserung der Tabelle; k) Änderung der Benennung "Dielektrizitätskonstante" in die aktualisierte Benennung "relative Permittivität"; l) Hinzufügung eines Warnhinweises über den Umstand, dass für dieses Prüfverfahren in 6.6 ein Reflektometer mit einer kürzeren Anstiegszeit von unter 100 ps erforderlich ist, die unter dem in IEC 62153-4-6 und EN 50289-1-6 festgelegten Wert von 350 ps für das ähnliche Paralleldrahtverfahren bei geschirmten Kabeln liegt, während für Prüfverfahren 23g aus IEC 60512-23-7 für den gleichen Zweck eine Anstiegszeit von unter 200 ps festgelegt ist; m) Verwendung der Benennung "Steckverbindergehäuse" [IEV 581-27-10] anstelle der Benennung "Mantel" zur Berücksichtigung der Steckverbindervorrichtung, die als Abschirmung dient; n) Hinzufügung des Titels "Transferimpedanz ZT [Ω]" zur linken Ordinatenachse des doppellogarithmischen Diagramms in Bild 7; o) Hinzufügung einer erläuternden Anmerkung zum besseren Verständnis der Gleichung zur Berechnung von SE anhand von ZT.
