NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

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DIN EN 60749-40 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:

Dokumentnummer	Ausgabe	Titel
IEC 60749-37	2008-01	Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 37: Prüfverfahren Fall der Leiterplatte unter Verwendung eines Beschleunigungs-Messgerätes Mehr