NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

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Norm [AKTUELL]

IEC 60749-37
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 37: Prüfverfahren Fall der Leiterplatte unter Verwendung eines Beschleunigungs-Messgerätes

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer

Ausgabe 2008-01

Originalsprache Englisch , Französisch

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