NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

DIN EN 60749-23 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:

Dokumentnummer Ausgabe Titel
IEC 60747-16-4 AMD 1 2009-03 Halbleiterbauelemente - Teil 16-4: Integrierte Mikrowellenschaltkreise - Schalter; Änderung 1 Mehr 
IEC 60747-16-4 Edition 1.1 2011-04 Halbleiterbauelemente - Teil 16-4: Integrierte Mikrowellenschaltkreise - Schalter Mehr 
IEC 60747-2-2 ; QC 750109:1993-09 1993-09 Halbleiterbauelemente; Einzel-Halbleiterbauelemente; Teil 2: Gleichrichterdioden; Hauptabschnitt 2: Vordruck für Bauartspezifikationen für Gleichrichterdioden (einschließlich Avalanche Gleichrichterdioden), umgebungs- und gehäusebezogen für Ströme über 100 A Mehr 
IEC 60747-4 2007-08 Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente - Teil 4: Mikrowellendioden und -transistoren Mehr 
IEC 60747-6-3 ; QC 750113:1993-11 1993-11 Halbleiterbauelemente; Einzel-Halbleiterbauelemente; Teil 6: Thyristoren; Hauptabschnitt 3: Vordruck für Bauartspezifikationen für rückwärtssperrende Thyristortrioden, umgebungs- und gehäusebezogen, für Ströme über 100 A Mehr 
IEC 60747-7 2010-12 Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente - Teil 7: Bipolartransistoren Mehr 
IEC 60747-8 2010-12 Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente - Teil 8: Feldeffekttransistoren Mehr 
IEC 60747-8-2 ; QC 750106:1993-02 1993-02 Halbleiterbauelemente; Einzel-Halbleiterbauelemente; Teil 8: Feldeffekt-Transistoren; Hauptabschnitt 2: Vordruck für Bauartspezifikationen für Feldeffekt-Transistoren für gehäusebezogene Leistungs-Verstärkeranwendung Mehr 
IEC 60747-8-3 ; QC 750114:1995-04 1995-04 Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente - Teil 8: Feldeffekttransistoren - Hauptabschnitt 3: Vordruck für Bauartspezifikationen für gehäusebezogene Feldeffekttransistoren für Schaltanwendungen Mehr 
IEC 60749-34 2010-10 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 34: Lastwechselprüfung Mehr