NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 60749-34 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 60747-1 | 2006-02 | Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 1: Allgemeines Mehr |
| IEC 60747-2 | 2000-03 | Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 2: Gleichrichterdioden Mehr |
| IEC 60747-6 | 2000-12 | Halbleiterbauelemente - Teil 6: Thyristoren Mehr |
| IEC 60749-23 | 2004-02 | Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur Mehr |
| IEC 60749-3 | 2002-04 | Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung Mehr |
| IEC 60747-1 AMD 1 | 2010-05 | Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 1: Allgemeines Mehr |
| IEC 60747-1 Corrigendum 1 | 2008-09 | Semiconductor devices - Part 1: General; Corrigendum 1 Mehr |
| IEC 60747-1 Edition 2.1 | 2010-08 | Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 1: Allgemeines Mehr |
| IEC 60747-10 ; QC 700000:1991-04 | 1991-04 | Halbleiterbauelemente; Einzel-Halbleiterbauelemente; Teil 10: Fachgrundspezifikation für Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen Mehr |
| IEC 60747-10 AMD 3 ; QC 700000:1996-08 | 1996-08 | Halbleiterbauelemente - Teil 10: Fachgrundspezifikation für Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen; Änderung 3 Mehr |
