NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

DIN EN 62058-11 ; VDE 0418-8-11:2011-04 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:

Dokumentnummer Ausgabe Titel
ISO 2859-1 1999-11 Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung) - Teil 1: Nach der annehmbaren Qualitätsgrenzlage (AQL) geordnete Stichprobenanweisungen für die Prüfung einer Serie von Losen anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler Mehr 
ISO 2859-1 Technical Corrigendum 1 2001-03 Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung) - Teil 1: Nach der annehmbaren Qualitätsgrenzlage (AQL) geordnete Stichprobenanweisungen für die Prüfung einer Serie von Losen anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler; Korrektur 1 Mehr 
ISO 2859-3 2005-05 Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung) - Teil 3: Skip-Lot-Verfahren Mehr 
ISO 3534-2 2006-09 Statistik - Begriffe und Formelzeichen - Teil 2: Angewandte Statistik (ISO 3534-2:2006); Text Deutsch und Englisch Mehr 
ISO 5479 1997-05 Statistische Auswertung von Daten - Tests auf Abweichung von der Normalverteilung Mehr 
DIN ISO 2859-3 2007-10 Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung) - Teil 3: Skip-Lot-Verfahren (ISO 2859-3:2005); Text Deutsch, Englisch Mehr 
ISO 2854 1976-02 Statistische Auswertung von Daten - Schätz- und Testverfahren für Erwartungswerte und Varianzen Mehr 
ISO 3534-1 2006-10 Statistik - Begriffe und Formelzeichen - Teil 1: Wahrscheinlichkeit und allgemeine statistische Begriffe (ISO 3534-1:2006); Text Deutsch und Englisch Mehr 
ISO/TR 8550-1 2007-06 Leitfaden für die Auswahl und die Anwendung von Annahmestichprobensystemen für die Prüfung diskreter Einheiten in Losen - Teil 1: Allgemeiner Leitfaden für die Annahmestichprobenprüfung Mehr 
ISO/TR 8550-2 2007-10 Leitfaden für die Auswahl und die Anwendung von Annahmestichprobensystemen für die Prüfung diskreter Einheiten in Losen - Teil 2: Stichprobenprüfung anhand von Alternativmerkmalen (Attributprüfung) Mehr