NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
Projekt
Halbleiterbauelemente - Chip-Scale-Prüfung für autonome Fahrzeuge - Teil 2: Optische Leistung von LiDAR
Kurzreferat
Dieser Teil der Norm IEC 63551 legt die Prüfbedingungen und Prüfverfahren fest, die zur Bewertung und Bestimmung der optischen Leistung von Halbleiterbauelementen in LiDAR-Systemen herangezogen werden können, wobei der Schwerpunkt auf der Leistung von LD-PD-Bauelementen im Chip-Maßstab liegt.
Beginn
2026-04-22
Geplante Dokumentnummer
DIN EN IEC 63551-2
Projektnummer
02233836
