2. Mitwirken
  3. Normenausschüsse
  4. DKE
NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

Über DKE Projekte Entwürfe Veröffentlichungen Ersatzlose Zurückziehungen Nationale Gremien Europäische Gremien Internationale Gremien
Projekt

Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 6: Methode zur Bewertung der grundlegenden Eigenschaften in „One Transistor One Memristor“-Arrays (1T1M)

Kurzreferat

Dieser Teil der IEC 63550-6 legt die Prüfverfahren zur Bewertung der grundlegenden Berechnungseigenschaften von „One Transistor One Memristor“-Arrays (1T1M) fest. Die Prüfverfahren in dieser internationalen Norm umfassen paralleles Lesen, paralleles Schreiben sowie die Bewertung von Schreibfehlern und Restfehlern.

Beginn

2026-04-14

Geplante Dokumentnummer

DIN EN IEC 63550-6

Projektnummer

02233799

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente  

Ihr Kontakt

Denis Kasalo

Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

Tel.: +49 69 6308-149

Zum Kontaktformular