NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
Projekt
Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 5: Verfahren zur Bewertung der Lebensdauer und Speicherstabilität von Memristor-Bauelementen
Kurzreferat
Dieser Teil der IEC 63550-5 legt die Prüfverfahren zur Bewertung der Lebensdauer und der Speichersicherheit von neuromorphen Memristor-Bauelementen fest. Die Prüfverfahren in dieser internationalen Norm umfassen auch Prüfgeräte, Begriffe und Definitionen zur Bewertung der Lebensdauer und Speicherdauer in den neuromorphen Memristor-Bauelementen. Dieses Dokument gilt für neuromorphe Memristor-Bauelemente mit zwei Anschlüssen ohne Einschränkungen hinsichtlich der Bauelementtechnologie und -größe.
Beginn
2026-04-14
Geplante Dokumentnummer
DIN EN IEC 63550-5
Projektnummer
02233797
