DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 4: Bewertungsmethode für Asymmetrien in Memristor-Bauelementen (IEC 47/2940/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63550-4:2025
Kurzreferat
Dieser Teil der IEC 63550-4 legt die Prüfverfahren zur Bewertung der Asymmetrie von neuromorphen Memristor-Bauelementen fest. Die Prüfverfahren in dieser internationalen Norm umfassen auch Prüfgeräte, Begriffe und Definitionen zur Bewertung der Leitfähigkeitsaktualisierungsasymmetrie in neuromorphen Memristor-Bauelementen, einschließlich Asymmetrie, Zyklus-zu-Zyklus-Variation der Asymmetrie und Bauelement-zu-Bauelement-Variation der Asymmetrie. Dieses Dokument gilt für neuromorphe zweipolige Memristor-Bauelemente ohne Einschränkungen hinsichtlich der Bauelementtechnologie und -größe.
Beginn
2025-07-23
Geplante Dokumentnummer
DIN EN IEC 63550-4
Projektnummer
02233311
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente
Norm-Entwurf
Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 4: Bewertungsmethode für Asymmetrien in Memristor-Bauelementen (IEC 47/2940/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63550-4:2025
2026-05
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