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NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

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Projekt

Supraleitfähigkeit - Teil 15: Messungen der elektronischen Charakteristik - Intrinsische Oberflächenimpedanz von Supraleiterfilmen bei Mikrowellenfrequenzen (IEC 90/539/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 61788-15:2025

Kurzreferat

Dieser Teil der IEC 61788 beschreibt Messungen der intrinsischen Oberflächenimpedanz (ZS) von HTS-Filmen bei Mikrowellenfrequenzen mit einem modifizierten dielektrischen Resonatorverfahren mit zwei Resonanzmoden. Ziel der Messung ist es, die Temperaturabhängigkeit der intrinsischen ZS bei der Resonanzfrequenz f0 zu ermitteln.

Beginn

2024-07-17

Geplante Dokumentnummer

DIN EN IEC 61788-15

Projektnummer

02232455

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 184 - Supraleiter  

Vorgänger-Dokument(e)

Supraleitfähigkeit - Teil 15: Messungen der elektronischen Charakteristik - Oberflächenimpedanz von Supraleiterschichten bei Mikrowellenfrequenzen (IEC 61788-15:2011); Deutsche Fassung EN 61788-15:2011
2012-08

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