NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

Über DKE Projekte Entwürfe Veröffentlichungen Ersatzlose Zurückziehungen Nationale Gremien Europäische Gremien Internationale Gremien

Norm-Entwurf [ZURÜCKGEZOGEN]

IEC 47/1615/CDV ; IEC 60749-14:2002-03 ; IEC-PN 47/60749-14:2002-03
IEC 60749-14, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)

Titel (englisch)

IEC 60749-14, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)

Ausgabe 2002-03

Originalsprache Englisch

Preis Auf Anfrage

Kaufen bei DIN Media

Inhaltsverzeichnis