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Projekte von DKE/K 631

IEC 47/1432/NP 1999-07-16 Proposal of The Netherlands NC: Electromigration Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47/1433/NP 1999-07-16 Proposal of The Netherlands NC: Hot carrier test on MOS transistors Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47/1434/NP 1999-07-16 Proposal of The Netherlands NC: Triangular voltage sweep Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47/1435/NP 1999-07-16 Proposal of The Netherlands NC: Metalization stress void inspection Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47A/623/CD 1999-06-18 IEC 62147: Integrierte Schaltungen - Einheitliche Qualifizierungsnorm zum Erhalt der IECQ- und Endanwender-Zertifizierung (IEC 47A/593/CD:2000) Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47A/596/CD 1998-07-24 IEC 62113: Integrierte Schaltungen - Abkündigungsverfahren für Lieferanten und Verteiler (IEC 47A/596/CD:2000) Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47/1423/CDV 1998-05-08 Amendment to the IEV Chapter 521: Semiconductor devices and integrated circuits Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47C/145/CDV 1996-06-07 Measuring method for carrier to noise ratio an analogue laser Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47/1394/FDIS 1996-03-22 Amendment 3 to IEC 749: Withdrawal of tests Db and Z/AD Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47A/541/CDV 1995-11-10 IEC 61748: Anerkennungsverfahren von Fertigungslinien (QML) für Multi Chip Modules (MCM) (IEC 47A/541/CDV:1999) Text English Mehr  Kontakt zu DIN 

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