Projekt
Proposal from the Netherlands NC: Gate oxide breakdown tests
Beginn
2000-02-18
Geplante Dokumentnummer
IEC 47/1473/NP
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente
2000-02-18
IEC 47/1473/NP
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente