Veröffentlichungen von NA 062-08-16 AA

ISO 17109 2022-03 Norm Surface chemical analysis - Depth profiling - Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 17331 2004-05 Norm Chemische Analytik an Oberflächen - Chemische Methoden für die Sammlung von Elementen von der Oberfläche von Siliziumscheiben-Arbeits-Referenzmaterialien und deren Bestimmung mit Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzanalyse (TXRF) Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 17331 AMD 1 2010-07 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Chemische Methoden für die Sammlung von Elementen von der Oberfläche von Siliziumscheiben-Arbeits-Referenzmaterialien und deren Bestimmung mit Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzanalyse (TXRF); Änderung 1 Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 17560 2014-09 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionenmassenspektrometrie - Methode für die Tiefenprofilanalyse von Bor in Silizium Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 17862 2022-09 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionen-Massenspektrometrie - Linearität der Intensitätsskale bei Einzelionen zählenden Flugzeit-Massenspektrometern Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 17973 2024-07 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Auger-Elektronenspektrometer mit mittlerer Auflösung - Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 17974 2002-10 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Hochauflösende Augerelektronenspektrometer - Kalibrierung der Energieskalen für die Elementanalyse und die Analyse des chemischen Zustands Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 18114 2021-05 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionenmassenspektrometrie - Bestimmung relativer Sensitivitätsfaktoren ionenimplantierter Referenzmaterialien Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 18115-1 2023-06 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Vokabular - Teil 1: Allgemeine Begriffe und Begriffe für die Spektroskopie Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 18115-2 2021-12 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Vokabular - Teil 2: Begriffe für die Rastersondenmikroskopie Mehr  Kaufen bei DIN Media

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