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Veröffentlichungen von NA 062-08-16 AA

ISO 16129 2018-11 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Röntgenphotoelektronenspektroskopie - Verfahren zur Bestimmung des täglichen Leistungsvermögens eines Röntgenphotoelektronenspektrometers Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 16242 2011-12 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Aufnahme und Wiedergabe von Daten bei der Augerelektronenspektroskopie (AES) Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 16243 2011-12 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Aufnahme und Wiedergabe von Daten bei der Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS) Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 16413 2020-08 Norm Bestimmung der Dicke, Dichte und Grenzflächenbreite von Dünnschichten durch Röntgenreflektometrie - Geräteanforderungen, Einstellung und Positionierung, Datensammlung, Datenanalyse und Berichterstattung Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 16531 2020-10 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Tiefenprofilierung - Verfahren zur Einstellung des Ionenstrahls und damit verbundene Messung der Stromstärke oder der Stromdichte zur Tiefenprofilierung in AES und XPS Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 16666 2025-11 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Röntgentotalreflektion-Fluoreszenzanalyse – Grundlagen und Anforderungen Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 16962 2017-02 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Analyse von Zink- und/oder Aluminium basierten metallischen Beschichtungen mit optischer Emissionsspektrometrie mit Glimmentladung Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 17109 2022-03 Norm Surface chemical analysis - Depth profiling - Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 17331 2004-05 Norm Chemische Analytik an Oberflächen - Chemische Methoden für die Sammlung von Elementen von der Oberfläche von Siliziumscheiben-Arbeits-Referenzmaterialien und deren Bestimmung mit Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzanalyse (TXRF) Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 17331 AMD 1 2010-07 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Chemische Methoden für die Sammlung von Elementen von der Oberfläche von Siliziumscheiben-Arbeits-Referenzmaterialien und deren Bestimmung mit Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzanalyse (TXRF); Änderung 1 Mehr  Kaufen bei DIN Media

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