Veröffentlichungen von NA 062-08-16 AA

ISO 13084 2025-10 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionen-Massenspektrometrie - Kalibrierung der Massenskale für einen Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 13095 2014-07 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Rasterkraftmikroskopie - Verfahren zur in situ-Charakterisierung des Schaftprofils von AFM-Sonden zur Messung von Nanostrukturen Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 13424 2013-10 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Röntgenphotoelektronen-Spektroskopie - Darstellung der Ergebnisse bei der Analyse dünner Schichten Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 14237 2010-07 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionenmassenspektrometrie - Bestimmung der Atomkonzentration von Bor in Silizium unter Verwendung gleichmäßig dotierter Materialien Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 14606 2022-11 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Tiefenprofilierung mit Sputtern - Optimierung durch Nutzung von Referenz-Schichtsystemen Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 14701 2018-11 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Röntgenphotoelektronenspektroskopie - Messung der Siliziumoxiddicke Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 14706 2014-08 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Bestimmung der Oberflächenkontaminationen auf Silizium-Wafern mit Hilfe der "Total X-Ray Fluorescence Spectroscopy" (TXRF) Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 14707 2021-03 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Optische Glimmentladungs-Emissionsspektrometrie (GD-OES) - Einführung in die Anwendung Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 14975 2000-12 Norm Chemische Oberflächenanalytik - Informationsformate Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 14976 1998-07 Norm Chemische Oberflächenanalytik - Datenübertragungsformat Mehr  Kaufen bei DIN Media

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