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Veröffentlichungen von NA 062-08-16 AA

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ISO 10810 2019-08 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Röntgenphotoelektronenspektroskopie - Analyseleitfaden Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 11039 2012-02 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Rastersondenmikroskopie - Messung der Driftrate Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 11505 2025-06 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Allgemeine Verfahren zur quantitativen Tiefenprofilanalyse der Zusammensetzung mittels optischer Glimmentladungs-Emissionsspektrometrie Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 11775 2015-10 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Rastersondenmikroskopie - Bestimmung der Cantilever-Federkonstantennormalen Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 11952 2019-05 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Rastersondenmikroskopie - Bestimmung geometrischer Kenngrößen mit Rastersondenmikroskopie: Kalibrierung von Messsystemen Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 12406 2010-11 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionenmassenspektroskopie - Verfahren zur Tiefenprofilanalyse von Arsen in Silicium Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 13083 2015-08 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Rastersondenmikroskopie - Standards zur Definition und Kalibrierung der räumlichen Auflösung von Rasterausbreitungswiderstandsmikroskopie und Rasterkapazitätsmikroskopie Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 13084 2025-10 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionen-Massenspektrometrie - Kalibrierung der Massenskale für einen Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 13095 2014-07 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Rasterkraftmikroskopie - Verfahren zur in situ-Charakterisierung des Schaftprofils von AFM-Sonden zur Messung von Nanostrukturen Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 13424 2013-10 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Röntgenphotoelektronen-Spektroskopie - Darstellung der Ergebnisse bei der Analyse dünner Schichten Mehr  Kaufen bei DIN Media