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DIN IEC 60759
Standardprüfverfahren für Halbleiter-Röntgenenergiespektrometer
DIN EN 63464-1
Halbleiterschutzgeräte für Hausinstallationen und ähnliche Anwendungen - Teil 1: Fehlerstrom-Schutzschalter mit integriertem Überstromschutz für Hausinstallationen und ähnliche Anwendungen IEC/SC23E
DIN EN IEC 60947-10
Niederspannungsschaltgeräte - Teil 10: Halbleiter-Leistungsschalter
prEN 17216
Bauprodukte - Bewertung der Freisetzung von gefährlichen Stoffen - Messung der spezifischen Aktivität von Radium-226, Thorium-232 und Kalium-40 mittels Halbleiter-Gammaspektrometrie
DIN EN 17216
Bauprodukte - Bewertung der Freisetzung von gefährlichen Stoffen - Messung der spezifischen Aktivität von Radium-226, Thorium-232 und Kalium-40 mittels Halbleiter-Gammaspektrometrie; Deutsche und Englische Fassung prEN 17216:2023
IEC 47/2085/FDIS
Halbleiter-Chip-Erzeugnisse - Teil 2: Datenaustausch-Formate
DIN EN IEC 60269-4/A1
Niederspannungssicherungen - Teil 4: Zusätzliche Anforderungen an Sicherungseinsätze zum Schutz von Halbleiter-Bauelementen (IEC 32B/776/RR:2025)
ISO/WD 26262-11
Straßenfahrzeuge - Funktionale Sicherheit - Teil 11: Leitfaden für die Anwendung für Halbleiter
IEC 47/2073A/DTR
Halbleiter-Chip-Erzeugnisse - Teil 4: Fragebogen für Chip-Anwender und -Lieferanten
DIN EN IEC 61290-1-2
Prüfverfahren für Lichtwellenleiter-Verstärker - Teil 1-2: Optische Leistungs- und Verstärkerparameter - Verfahren mit elektrischem Spektralanalysator
