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Prüfverfahren für Elektromaterialien, Leiterplatten und andere Verbindungsstrukturen und Baugruppen - Teil 5-501: Allgemeine Prüfverfahren für Materialien und Baugruppen - Prüfung des Oberflächenisolationswiderstands (SIR) von Lotflussmitteln

Wälzlager - Linearwälzlager, Baugruppen, Rollerklötze - Grenzabmaße und Toleranzwerte

Messmethode für thermische Auslegung bei elektronischen Baugruppen - Teil 1: Messanforderungen zur Verwendung bei der thermischen Auslegung für Leiterplatten oder Baugruppen mit miniaturisierten oberflächenmontierbaren Bauelementen (SMDs), bei denen der Wärmeableitungspfad zur Leiterplatte dominiert

Gremien

IEC/TC 91

Montageverfahren für elektronische Baugruppen

Gremien

DKE/K 682

Aufbau- und Verbindungstechnik für elektronische Baugruppen

Prüfung 5E02: Oberflächenisolationswiderstand, Baugruppen (IEC 91/197/CD:2000)

Niederspannungs-Schaltgerätekombinationen - Teil 8: Schaltgerätekombinationen für den Einsatz in Photovoltaik-Installationen

Hochspannungs-Schaltgeräte und -Schaltanlagen - Teil 3: Digitale Schnittstellen nach IEC 61850

Messmethode für thermische Auslegung bei elektronischen Baugruppen - Teil 2: Messmethode für die Wärmeleitfähigkeit von Leiterplatten mit polymeren Verbundwerkstoffen

Leiterplatten - Teil 3: Sicherheits-Zertifizierung von starren Leiterplatten für elektronische Baugruppen (IEC 91/384/CD:2003)